半導體測試技術(shù)原理與應用 劉新福//杜占平//李為民 ..
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電子通信培..
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- ISBN：9787502441012
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原價：
￥28.00元
現(xiàn)價：￥0.00元
圖書簡介
品牌：圖書詳情 商品基本信息，請以下列介紹為準 商品名稱： 半導體測試技術(shù)原理與應用 作者： 劉新福//杜占平//李為民 市場價： 28元 文軒網(wǎng)價： 23元【82折】 ISBN號： 9787502441012 出版社： 冶金工業(yè)出版社 商品類型： 圖書
其他參考信息（以實物為準） 裝幀： 開本：32開 語種： 出版時間：2006-11-01 版次： 頁數(shù)： 印刷時間：2007-01-01 印次： 字數(shù)： 溫馨提示：出版時間超過3年的圖書，因長時間儲存可能會產(chǎn)生紙張缺陷，敬請諒解！
內(nèi)容簡介 全書共11章。第1章對半導體微區(qū)電阻測量技術(shù)的各種方法進行了分析比較，對國內(nèi)外薄層電阻測試方法進行綜述；第2章是四探針技術(shù)測量薄層電阻原理的分析，對常規(guī)直線四探針法、改進的范德堡法和斜置式方形Rymaszewski四探針法分別進行了詳細論述；第3章深入地討論了四探針測試技術(shù)中的共性問題，重點對測試設備的校準及環(huán)境對測量的影響，以及對四探針測試中的邊緣修正問題進行了論述；第4章論述了本課題組開發(fā)的自動測量四探針儀測控系統(tǒng)；第5章論述游移對測試結(jié)果的影響及測量薄層電阻的改進Rymaszewski方法；第6、7章分別論述探針圖像預處理、邊緣檢測以及探針的圖像分割、定位控制與探針圖像檢測精度分析；第8章對電阻率的無接觸測量技術(shù)及自主研制的薄層電阻自動測試儀器進行了分析與介紹；第9章討論了高電阻率材料的電學參數(shù)測量問題；第10章論述了掃描電子顯微鏡及其在半導體測試技術(shù)中的應用；第11章介紹了外延片的物理測試原理。
目錄 1 半導體微區(qū)電阻測量技術(shù)2 四探針技術(shù)測量薄層電阻的原理分析3 四探針測試技術(shù)中的共性問題4 四探針儀測控系統(tǒng)及其實現(xiàn)5 游移對測試結(jié)果的影響及測量薄層電阻的改進Rymaszewski方法6 探針圖像預處理及邊緣檢測7 探針的圖像分割、定位控制與檢測精度分析8 電阻率的無接觸測量及自動測試技術(shù)9 高是阻率材料的電學參數(shù)測量10 掃描電子顯微鏡及其在半導體測試技術(shù)中的應用11 外延片的物理測試參考文獻
目錄
品牌：圖書
| 商品基本信息，請以下列介紹為準 | |
| 商品名稱： | 半導體測試技術(shù)原理與應用 |
| 作者： | 劉新福//杜占平//李為民 |
| 市場價： | 28元 |
| 文軒網(wǎng)價： | 23元【82折】 |
| ISBN號： | 9787502441012 |
| 出版社： | 冶金工業(yè)出版社 |
| 商品類型： | 圖書 |
| 其他參考信息（以實物為準） | ||
| 裝幀： | 開本：32開 | 語種： |
| 出版時間：2006-11-01 | 版次： | 頁數(shù)： |
| 印刷時間：2007-01-01 | 印次： | 字數(shù)： |
| 溫馨提示：出版時間超過3年的圖書，因長時間儲存可能會產(chǎn)生紙張缺陷，敬請諒解！ | ||
| 內(nèi)容簡介 | |
| 全書共11章。第1章對半導體微區(qū)電阻測量技術(shù)的各種方法進行了分析比較，對國內(nèi)外薄層電阻測試方法進行綜述；第2章是四探針技術(shù)測量薄層電阻原理的分析，對常規(guī)直線四探針法、改進的范德堡法和斜置式方形Rymaszewski四探針法分別進行了詳細論述；第3章深入地討論了四探針測試技術(shù)中的共性問題，重點對測試設備的校準及環(huán)境對測量的影響，以及對四探針測試中的邊緣修正問題進行了論述；第4章論述了本課題組開發(fā)的自動測量四探針儀測控系統(tǒng)；第5章論述游移對測試結(jié)果的影響及測量薄層電阻的改進Rymaszewski方法；第6、7章分別論述探針圖像預處理、邊緣檢測以及探針的圖像分割、定位控制與探針圖像檢測精度分析；第8章對電阻率的無接觸測量技術(shù)及自主研制的薄層電阻自動測試儀器進行了分析與介紹；第9章討論了高電阻率材料的電學參數(shù)測量問題；第10章論述了掃描電子顯微鏡及其在半導體測試技術(shù)中的應用；第11章介紹了外延片的物理測試原理。 |
| 目錄 | |
| 1 半導體微區(qū)電阻測量技術(shù)2 四探針技術(shù)測量薄層電阻的原理分析3 四探針測試技術(shù)中的共性問題4 四探針儀測控系統(tǒng)及其實現(xiàn)5 游移對測試結(jié)果的影響及測量薄層電阻的改進Rymaszewski方法6 探針圖像預處理及邊緣檢測7 探針的圖像分割、定位控制與檢測精度分析8 電阻率的無接觸測量及自動測試技術(shù)9 高是阻率材料的電學參數(shù)測量10 掃描電子顯微鏡及其在半導體測試技術(shù)中的應用11 外延片的物理測試參考文獻 |
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