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2017年黑龍江科技大學材料分析測試技術考研復試大綱
材料分析測試技術考研復試大綱
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《材料分析測試技術》考試大綱
適用專業名稱：材料科學與工程
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科目代碼及名稱
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考試大綱
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5材料分析測試技術
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一、 考試目的與要求
測試考生對X射線衍射分析技術、掃描電子顯微鏡、電子探針、透射電鏡等分析技術的掌握程度，使學生掌握材料研究的基本方法，學會進行材料微觀組織結構分析和物理性能分析的常用儀器設備的原理及使用方法，使學生具備分析研究材料的組織結構所必須的基礎理論、基礎知識與基本技能。
二、 試卷結構（滿分100分）
內容比例：
X射線衍射分析 約35分
透射電鏡分析 約20分
掃描電鏡分析 約20分
電子探針分析 約25分
題型比例：
客觀題 約30分
1．填空題（選擇或判斷） 約15分
2．名詞解釋 約15分
主觀題 約70分
1. 簡答題 約20分
2. 證明題 約20分
3. 綜合分析題 約30分
三、考試內容與要求
（一）X射線衍射分析
考試內容
X射線物理基礎、X射線衍射方向、X射線衍射強度、多晶體分析方法、 X射線物相分析及點陣參數精確測定
考試要求
1. 掌握X射線的本質、X射線譜的分類及特征譜的產生機理；
2. 掌握X射線與物質的相互作用；
3. 掌握布拉格方程的推導及應用；
4.理解結構因子的物理意義，掌握三種常見點陣消光規律，掌握X射線衍射強度公式；
5、理解各種衍射分析方法，掌握X射線衍射儀的參數設置；
6、掌握物相定性分析的原理、方法與步驟；
7、掌握PDF卡片的組成及索引方法；
8、掌握物相定量分析的原理及方法；
9、掌握立方晶系物質點陣常數的精確測定。
（二）電子光學基礎及透射電子分析
考試內容
電子波與電磁透鏡、電磁透鏡的像差與分辨本領、電磁透鏡的景深和焦長，電子衍射原理、電子顯微鏡中的電子衍射、單晶體電子衍射花樣標定以及復雜電子衍射花樣。透射電子顯微鏡的結構與成像原理、主要部件的結構與工作原理；透射電子顯微鏡分辨本領和放大倍數的測定，薄膜樣品的制備；衍襯成像原理；消光距離
考試要求
1. 掌握電子透鏡及其景深與焦長、電磁透鏡的像差與分辨本領；
2.理解透射電鏡的結構，了解透射電鏡的應用樣品的制備方法并能制備電鏡樣品；
3.掌握電子衍射原理和衍稱成像原理；
4.能夠分析電子衍射花樣。
（三）掃描電子顯微鏡
考試內容
電子束與固體樣品作用、掃描電子顯微鏡的構造和工作原理、掃描電子顯微鏡的主要性能、表面形貌襯度原理及其應用、原子序數襯度原理及其應用
考試要求
1. 理解掃描電子顯微鏡的構造和工作原理
2. 了解電子束與固體樣品作用時產生的信號
3. 掌握掃描電子顯微鏡的主要性能、表面形貌襯度原理及其應用
4. 應用SEM圖像分析物質
（四）電子探針顯微分析
考試內容
電子探針儀的結構與工作原理；電子探針儀的分析方法及其應用
考試要求
1. 理解電子探針分析構造
2. 了解電子探針分析應用
3. 掌握電子探針分析方法及微區成分分析技術
4. 應用微區分析技術分析物質成分和結構
參考書目：
《材料分析方法》（第三版），周玉主編，哈爾濱工業大學出版社，2011年
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