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617 晶體光學考試大綱

一、考試性質與范圍

《晶體光學》是地質學專業碩士研究生的入學專業基礎考試課程。主要考查學生對《晶體光學》基本概念和基本原理的掌握，以及是否具備運用偏光顯微鏡，在單偏光系統、正交偏光系統和錐光(聚斂偏光)系統下觀察和鑒定透明礦物晶體光學性質的基本能力。考試范圍包括晶體光學基礎、光率體和光性方位、偏光顯微鏡原理與調節，以及單偏光、正交偏光和錐光(聚斂偏光)系統下晶體的光學性質與測定方法。

二、考試基本要求

考試題目類型因年而異，包括名詞解釋、選擇、填空、判斷正誤、公式推導、作圖、簡答和分析論述等不同形式。

考生需要攜帶鉛筆、橡皮、直尺、圓規和量角器。

三、考試形式與分值

本課程由學校自行命題，全國統一考試。采用閉卷筆試形式，考試時間為180分鐘，滿分為150分。

四、考試內容

1. 晶體光學基礎

(1)光的性質與傳播;(2)自然光和偏光;(3)光的折射與全反射;(4)折射率與折射率儀;(5)光的雙折射;(6)一軸晶和二軸晶

2. 光率體和光性方位

(1)光率體;(2)一軸晶光率體;(3)二軸晶光率體;(4)光率體的主要參數;(5)光性方位

3. 偏光顯微鏡原理與調節

(1)偏光顯微鏡的構造;(2)偏光顯微鏡的光學系統;(3)偏光顯微鏡的調節;(4)薄片的制作

4. 單偏光系統下晶體的光學性質

(1)形態;(2)解理;(3)顏色;(4)多色性;(5)吸收性;(6)邊緣;(7)貝克線;(8)糙面;(9)突起

5. 正交偏光系統下晶體的光學性質

(1)消光現象;(2)消光類型與消光角;(3)干涉原理;(4)干涉色;(5)干涉色級序的確定;(6)補色原理與補色器;(7)延性;(8)雙晶

6. 錐光(聚斂偏光)系統下晶體的光學性質

(1)錐光(聚斂偏光)系統;(2)一軸晶的干涉圖;(3)二軸晶的干涉圖;(4)光性

7. 晶體光學應用

(1)單偏光系統下的性質測定：包括晶形、顏色或多色性、突起與糙面、解理及解理夾角等;

(2)正交偏光系統下的性質測定：包括最高干涉色、最大雙折射率、消光類型及消光角、延性符號、多色性和吸收性公式、異常干涉色等;

(3)錐光(聚斂偏光)系統下的性質測定：包括按干涉圖類型確定礦物的軸性、測定光性符號、估計光軸角大小等